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- 产品名称：15J测量显微镜 上光新品
- 产品型号：15J测量显微镜
- 产品展商：上光
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简单介绍
15J测量显微镜 上光新品二手闲置，上光新品，含说明书装箱单存货不多，数量有限，售完即止。用于直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等等。转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
产品描述
15J测量显微镜 上光新品
二手闲置，上光新品，含说明书装箱单存货不多，数量有限，售完即止。
一、用途：
测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下：
1、直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等等。
2、转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3、用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等.
二、规格：
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物镜
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目镜
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显微镜
放大倍数
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工作距离
（mm）
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视场直径
（mm）
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放大倍数
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焦距（mm）
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放大倍数
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焦距（mm）
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2.5X
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43.40
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10X
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25.00
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25X
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58.84
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5.6
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10X
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17.13
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100X
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7.81
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1.4
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三、测量工作台读数装置主要规格
x轴移动测量范围：50毫米
y轴移动测量范围：13毫米
测微器分度值：0.01毫米
测量台刻度盘分度范围： 0° - 360°
测量台刻度盘之分度值：1°
测量台刻度盘游标读数示值：6'
照明方式：反射光(自然光)
测量精度：仪器值误差(5+L/15)微米
注：产品照片为实物拍摄，供参考；本公司保留对产品进行改进提高的权利，届时恕不另行通知客户；本产品配置以及实际运费以装箱清单及货运距离为准。包装箱为定制实木结构，故在**性上有保障，但相应重量及运费要高一些，请各位理解。
